一、參數(shù)設(shè)置

（一）測(cè)試頻率

測(cè)試頻率是影響介電性能測(cè)量結(jié)果的重要參數(shù)。ZJD系列試驗(yàn)儀的測(cè)試頻率范圍通常為50Hz-1MHz，部分設(shè)備可擴(kuò)展至更高頻率。不同材料在不同頻率下的介電性能表現(xiàn)出顯著差異，因此需要根據(jù)材料的應(yīng)用場(chǎng)景和研究目的選擇合適的測(cè)試頻率。例如，在電力系統(tǒng)中，工頻（50Hz或60Hz）下的介電性能測(cè)試對(duì)于評(píng)估電力設(shè)備絕緣材料的性能具有重要意義；而在電子元件制造中，高頻（如1MHz以上）測(cè)試則更能反映材料在高頻信號(hào)傳輸中的性能特點(diǎn)。

（二）測(cè)試電壓

測(cè)試電壓的設(shè)置需綜合考慮材料的耐壓特性和測(cè)試要求。一般情況下，測(cè)試電壓范圍為0.1kV-10kV。過高的電壓可能導(dǎo)致材料擊穿，損壞試樣和儀器，因此必須根據(jù)材料的耐壓強(qiáng)度合理選擇電壓值。對(duì)于一些耐壓能力較低的材料，如某些有機(jī)絕緣材料，測(cè)試電壓應(yīng)控制在較低水平，以避免擊穿現(xiàn)象的發(fā)生；而對(duì)于耐壓能力較高的材料，如陶瓷絕緣材料，可在較高電壓下進(jìn)行測(cè)試，以更全面地評(píng)估其介電性能。

（三）溫度控制

溫度對(duì)材料的介電性能也有顯著影響。ZJD系列試驗(yàn)儀的溫度控制范圍一般為室溫至300℃。通過加熱爐或恒溫腔等設(shè)備，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)試環(huán)境溫度的精確控制，從而研究材料在不同溫度條件下的介電性能變化規(guī)律。例如，在電力電容器薄膜檢測(cè)中，通過在不同溫度下進(jìn)行測(cè)試，可以發(fā)現(xiàn)材料在高溫時(shí)介電性能的變化趨勢(shì)，進(jìn)而為材料的高溫應(yīng)用提供依據(jù)。

（四）樣品尺寸

樣品尺寸的設(shè)置需要確保樣品與電極之間的良好接觸，以提高測(cè)量精度。電極通常適配不同厚度（如0.1mm-10mm）和直徑（如25mm-100mm）的樣品。對(duì)于固體材料，一般加工為直徑100±0.5mm的圓片，表面粗糙度Ra≤3.2μm；液體介質(zhì)則使用專用測(cè)量池，電極間隙為2.00±0.02mm。樣品尺寸的合理選擇和加工，有助于減少邊緣效應(yīng)等誤差對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

（五）精度要求

為確保測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性，ZJD系列試驗(yàn)儀對(duì)測(cè)量精度提出了嚴(yán)格要求。介電常數(shù)誤差應(yīng)控制在≤±1%，介質(zhì)損耗誤差應(yīng)控制在≤±1×10??。定期對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)是保證測(cè)量精度的關(guān)鍵措施之一。校準(zhǔn)過程包括開路校準(zhǔn)（測(cè)量系統(tǒng)分布電容C0）、短路校準(zhǔn)（消除引線電感影響）以及標(biāo)準(zhǔn)電容校準(zhǔn)（使用NIST溯源的標(biāo)準(zhǔn)電容器，如100pF±0.1%）。

二、試驗(yàn)方式

（一）固體材料測(cè)試

對(duì)于固體材料，通常采用平行板電極系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。首先，將樣品加工為標(biāo)準(zhǔn)尺寸的圓片，確保表面平整、無污染。然后，將樣品放置在平行板電極之間，施加恒定壓力以消除接觸間隙。在測(cè)試過程中，根據(jù)材料類型選擇合適的測(cè)試頻率、電壓及溫度條件。例如，在測(cè)試聚丙烯薄膜時(shí)，可在室溫下，采用50Hz-1kHz的頻率范圍進(jìn)行測(cè)試。

（二）液體材料測(cè)試

液體材料的測(cè)試則需要使用專用的測(cè)量池。測(cè)量池的電極間隙通常為2.00±0.02mm。在測(cè)試前，需將液體樣品注入測(cè)量池中，避免氣泡的產(chǎn)生。液體材料的測(cè)試同樣需要根據(jù)其特性選擇合適的測(cè)試參數(shù)。例如，在變壓器油品質(zhì)評(píng)估中，通過在50Hz-1MHz的頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)試，可以對(duì)比新油和運(yùn)行油樣的tanδ值，從而判斷油中極性物質(zhì)的含量。

（三）薄膜材料測(cè)試

薄膜材料的測(cè)試通常采用三電極系統(tǒng)。三電極系統(tǒng)包括一個(gè)主電極和兩個(gè)輔助電極，其中輔助電極的作用是減少邊緣效應(yīng)的影響。在測(cè)試時(shí)，將薄膜樣品放置在主電極和輔助電極之間，保護(hù)環(huán)寬度應(yīng)≥3倍試樣厚度。通過三電極系統(tǒng)，可以更準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜材料的介電性能，尤其適用于薄膜材料的高頻介電性能測(cè)試。

三、儀器特點(diǎn)

（一）高精度測(cè)量單元

ZJD系列試驗(yàn)儀配備了高精度的測(cè)量單元，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)介電常數(shù)和介質(zhì)損耗因數(shù)的精確測(cè)量。其核心模塊包括高頻信號(hào)發(fā)生器（頻率范圍20Hz-2MHz）、高精度電容測(cè)量單元（分辨率0.01pF）和相位角檢測(cè)系統(tǒng)（精度±0.05%）。這些高精度的測(cè)量單元確保了測(cè)試結(jié)果的可靠性和重復(fù)性，能夠滿足不同材料在不同測(cè)試條件下的測(cè)量需求。

（二）寬頻測(cè)試能力

該試驗(yàn)儀具有寬頻測(cè)試能力，測(cè)試頻率范圍可達(dá)50Hz-1MHz，部分設(shè)備甚至可擴(kuò)展至更高頻率。這一特點(diǎn)使得儀器能夠覆蓋從工頻到高頻的多種應(yīng)用場(chǎng)景，滿足不同行業(yè)對(duì)材料介電性能測(cè)試的要求。例如，在電力系統(tǒng)中，工頻下的介電性能測(cè)試對(duì)于評(píng)估電力設(shè)備絕緣材料的性能至關(guān)重要；而在電子元件制造中，高頻測(cè)試則更能反映材料在高頻信號(hào)傳輸中的性能特點(diǎn)。

（三）多種安全防護(hù)功能

ZJD系列試驗(yàn)儀具備多種安全防護(hù)功能，以確保測(cè)試過程的安全性和可靠性。例如，儀器具有過壓保護(hù)功能，能夠自動(dòng)切斷超過設(shè)定值10%的電壓。此外，還配備了電弧檢測(cè)系統(tǒng)，具備納秒。